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致茂Chroma 3260自動化系統(tǒng)功能測試機 可靠的高速Pick&Place分類機 同步吸嘴雙取及雙放設(shè)計 具備處理QFP的能力 簡易編輯通訊定義（ECD）功能 無測試座損壞的問題 浮動頭可有效率衡測試壓力

致茂Chroma 3240自動化系統(tǒng)功能測試機 可靠的高速Pick&Place分類機 同步吸嘴雙取及雙放設(shè)計 具備處理QFP的能力 簡易編輯通訊定義（ECD）功能 無測試座損壞的問題 浮動頭可有效率衡測試壓力

致茂Chroma 3240-Q無線射頻分類機 符合成本效益的RF整合方案 客制RF隔離室和整合Tester安裝 可調(diào)整測試間距至120mm 具有八個平行測試站點 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到45x45 mm 精確的定位能力 支援JEDEC和EIA料盤

致茂Chroma 3180八站邏輯測試分類機 具有八個平行測試站點 9Kpcs 產(chǎn)能 彈性的多測點架構(gòu) 減輕壓測力 自動壓測力學習 支援的晶片尺寸從 3x3 mm 到50x50 mm 溫度測試范圍從常溫到高溫150 ℃ 連續(xù)自動重測功能

Chroma 3160C 三溫四站終端測試分類機 *溫控技術(shù) （Nitro-TEC 氮氣溫度控制器） 更快的 index time （0.6 sec） 主動式溫度控制并且提供更全面的測試溫度區(qū)間 Chamber Less的設(shè)計 支持更多樣化測試sites的選擇 （1/2/4 sites） 更簡單快速的更換kit